日本KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18D 表面粗糙度/轮廓形状测量机
日本KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18D 表面粗糙度/轮廓形状测量机可以进行两种类型的测量:“表面粗糙度”和“轮廓形状”。通过使用触摸屏,可切换测量条件等操作性优异,可快速测量各种工件。表面粗糙度测量可以在一次测量中分析不同标准的参数,从而可以平稳过渡到新标准。轮廓形状测量X轴上的最大测量采样点数量为64,000点,使得高分辨率的长距离测量成为可能。表面粗糙度测量范围/分辨率Z:600μ
日本KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18D 表面粗糙度/轮廓形状测量机可以进行两种类型的测量:“表面粗糙度”和“轮廓形状”。通过使用触摸屏,可切换测量条件等操作性优异,可快速测量各种工件。表面粗糙度测量可以在一次测量中分析不同标准的参数,从而可以平稳过渡到新标准。轮廓形状测量X轴上的最大测量采样点数量为64,000点,使得高分辨率的长距离测量成为可能。表面粗糙度测量范围/分辨率Z:600μ
日本KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18D 表面粗糙度/轮廓形状测量机
可以进行两种类型的测量:“表面粗糙度”和“轮廓形状”。
通过使用触摸屏,可切换测量条件等操作性优异,可快速测量各种工件。
表面粗糙度测量
可以在一次测量中分析不同标准的参数,从而可以平稳过渡到新标准。
轮廓形状测量
X轴上的最大测量采样点数量为64,000点,使得高分辨率的长距离测量成为可能。
测量范围/分辨率 | Z:600μm/0.08nm |
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进给速度 | 0.02~10毫米/秒 |
手写笔 | R2μm 0.75mN以下 |
测量精度 | Z:±0.25%(本公司标准) X:±(1+0.02L)μm以下 L:测量长度(mm) |
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测量范围 | Z:50毫米 X:100毫米 |
手写笔 | R25μm 10~30mN |