进口！！NITTOSEIKO日东精工 自动电阻率测量系统大型测绘系统MCP-S620和MCP-S521

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适用于测量ITO薄膜、各种金属薄膜等膜厚分布、转印带的电阻率分布。

• 可实现测量、计算、数据处理、3D图形输出的自动化。
  （基板尺寸最大可达650 x 650 mm。）

• [Ω]、[Ω/□]、[Ωcm] 和 [S/cm] 以三维方式显示。

• 测量位置可以通过三种方式设置：一键网格输入或顺序输入。

• 其用途十分广泛，从研发到生产线上的随机检查。

• 有两种类型可供选择，从低电阻率到高电阻率。