池田屋商社 DENSOKU电测 X射线荧光涂层测厚仪 EX-851
【池田屋商社】DENSOKU电测 X射线荧光涂层测厚仪 EX-851【池田屋商社】DENSOKU电测 X射线荧光涂层测厚仪 EX-851EX-851荧光X射线镀膜测厚仪的特点两种可选测量模式有两种模式可供选择，可根据应用场景实现流畅的测量工作。多重测量和多重校准曲线坐标被记录下来，并从激光照射点的位置自动测量多个点。每个点都可以使用不同的校准曲线进行测量。薄膜厚度测量过程中的光谱显示薄膜厚度测
【池田屋商社】DENSOKU电测 X射线荧光涂层测厚仪 EX-851
【池田屋商社】DENSOKU电测 X射线荧光涂层测厚仪 EX-851
EX-851荧光X射线镀膜测厚仪的特点
两种可选测量模式
有两种模式可供选择，
可根据应用场景实现流畅的测量工作。
多重测量和多重校准曲线
坐标被记录下来，并
从激光照射点的位置自动测量多个点。每个点都可以使用不同的校准曲线进行测量。
薄膜厚度测量过程中的光谱显示
薄膜厚度测量过程中的光谱显示。多通道光谱分析。高速处理可实现测量对象的简单光谱显示（处理速度：2-3秒）。
测量单位监视器屏幕显示
X射线照射装置被导入到Windows屏幕上并显示出来。
准直器允许进行放大倍率调节，从而改变照射尺寸。
自动测量模式
只需将待测物体放在激光指示器照射位置，关上门，平台
就会自动移动，完成整个测量过程。
手动测量模式
只需将待测物体放在激光指示器照射位置，关上门，载物台就会自动移动并调整焦距。
配备自动对焦功能
采用激光自动对焦。
自动对焦可提高工作效率。
测量台移动精度：1 μm
测量台的运动精度得到了提高（比当前产品提高了 50 倍），在使用坐标设置
进行连续测量或移动到指定位置时，可以实现精确的台架运动。
采用双重过滤
除了数值滤波器外，还使用了机械滤波器（双滤波器），从而可以在条件下进行测量，始终获得高精度。
增强的报告创建功能
使用 MS-Windows 软件，您可以轻松导入测量屏幕，并且报告生成功能也得到了增强。多任务处理功能允许您在测量的同时执行其他操作，包括报告生成。
内置五种准直器
最小的准直器直径为0.1毫米，可测量极小的区域。标准尺寸：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0。
特殊规格也可作为选配提供。
自诊断和X射线管维护功能
自诊断功能可立即采取措施解决设备问题。此外，还新增了显示X射线管使用时间和耐久时间的功能，以支持维护安全。
EX-851 X射线荧光涂层测厚仪规格
| EX-851 | 测量表尺寸（毫米） | 200 x 200 | |
|---|---|---|---|
| 运动量 | X（毫米） | 200 | |
| Y（毫米） | 200 | ||
| Z（毫米） | 90 | ||
| 测量物体高度（毫米） | 90 | ||
| 尺寸（毫米） | 740（宽）x 530（深）x 660（高）*不含突出部分 | ||
| 重量（公斤） | 85 | ||
| 样品负载量（千克） | 1 | ||
| 电脑 | 尺寸（毫米） | 主体尺寸：182（宽）x 383（深）x 372（高） | |
| 显示器 412（宽）x 415（深）x 432（高） | |||
| 重量（公斤） | 主机 6.8 / 显示器 2.8 | ||
| 打印机 | 重量（公斤） | 3.4 | |
| 电源 | 交流100V±10V | ||
| X射线源 | 油浸式紧凑型细焦X射线管 |
|---|---|
| 目标：钨 | |
| 电子管电压 50kV | |
| 可变管电流 | |
| 辐照法 | 顶部垂直照明方法 |
| 探测器 | 比例计数器 |
| 准直器 | 5种类型（自动切换型） |
| 0.1、0.2、0.5、1.0、2.0Φmm | |
| （选项） | |
| ：0.05、0.1、0.2、0.3、0.5、Φ | |
| ：0.05×0.5、0.5×0.05、0.1、0.2、0.5gΦ | |
| 样本观测 | （CCD彩色相机（自动对焦） |
| 电脑 | PC/AT兼容型 |
| 17英寸彩色显示器 | |
| 打印机 | 喷墨打印机 |
| 测量情况 | 原子序数 22 (Ti) ~ 82 (Pb) |
| 原子序数小于 21 的元素可以用吸收法测定。 | |
| 筛选 | 2 种类型（Co、Ni）自动切换 |
| 可测量范围 | 原子序数 22-24：0.02 至约 20 μm |
| 原子序数 25-40：0.01 至约 30 微米 | |
| 原子序数 41~51：0.02~约 70μm | |
| 原子序数 52-82：0.05 至约 10 μm | |
| 校准曲线 | 自动校准曲线创建功能 |
| 多点校准曲线 | |
| 校正功能 | 基准校正 |
| 应用 | 单层电镀测量 |
| 双层电镀测量 | |
| 三层电镀测量 | |
| 同时测量合金薄膜厚度组分比 | |
| 无电镀镍测量 | |
| 测量函数 | 自动测量 |
| 输出格式设置 | |
| 光谱测量 | |
| 点对点距离测量 | |
| 自动表格功能 | 自动对焦 |
| 测量位置规格（XYZ） | |
| 原点校正功能 | |
| 测量位置确认功能 | |
| 自动校准 | |
| 数据处理功能 | 统计信息显示：平均值、标准差、最大值、最小值、极差、cp、Cpk |
| 直方图 | |
| 个人资料视图 | |
| 测量数据的三维显示 | |
| XR 控制图 | |
| 安全功能 | X射线电源钥匙开关 |
| 故障安全功能 | |
| 其他功能 | 舞台坐标显示 |
| 设备维护和维修 |