进口！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 EX-731
进口！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 EX-731进口！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 EX-731尺寸2600（宽）x 465（深）x 730（高）[毫米]*不含突出部分重量手动平台：79公斤；自动平台：85公斤EX-731荧光X射线镀膜测厚仪的特点采用双重过滤除了数值滤波器外，还使用了两种类型的机械滤波器，即 Co 和 Ni，即使对于原子序数相邻的基材和涂层的组合（
进口！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 EX-731
进口！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 EX-731
| 尺寸 | 2600（宽）x 465（深）x 730（高）[毫米] *不含突出部分 |
|---|---|
| 重量 | 手动平台：79公斤； 自动平台：85公斤 |
EX-731荧光X射线镀膜测厚仪的特点
采用双重过滤
除了数值滤波器外，还使用了两种类型的机械滤波器，即 Co 和 Ni，即使对于原子序数相邻的基材和涂层的组合（例如 Cu 上的 Ni 和 Zn 上的 Cu），也能进行精确测量。
自动测量阶段
自动平台类型具有以下功能：
・连续自动测量・鼠标点击定位・测量两点之间的距离・全自动校准・测量图像内的分布数据
统计处理功能
可以显示和打印各种统计数据和图表。
隙盖
主体的盖子上有一条缝隙，因此即使是长条状的物体也可以在不切割的情况下进行测量。
内置五种准直器
标配五种准直器：0.1、0.2、0.5、1.0 和 2.0 mmφ。
另可选配 0.05 mmφ 和 0.05 mmφ x 0.5 mmφ 的准直器。
控制软件 ExWin
操作简便，可通过Windows PC上的ExWin控制软件进行操作。数据可轻松导入电子表格软件等。
窗口X射线管
铍窗X射线管现已上市。使用铍窗X射线管，可以采用0.05mmφ等小型准直器进行测量，并能高精度地测量钛、铬等轻元素。
自动聚焦功能可提高工作效率。
EX-731荧光X射线镀膜测厚仪规格
类型 手动舞台 电动舞台 测量头 尺寸（毫米） 170 × 110 300 × 280 运动量 X（毫米） 70 80 Y（毫米） 70 60 Z（毫米） 80（被测物体的最大高度：150） 50 测量对象高度（最大值） 80（选项 150） 50 尺寸（毫米） 600（宽）×465（深）×730（高） 重量（公斤） 79 85 样品负载量（千克） 3 2 电脑 尺寸（毫米） 主机尺寸：182（宽）x 383（深）x 372（高）
/ 显示器尺寸：412（宽）x 415（深）x 432（高）主机 6.8 / 显示器 2.8 重量（公斤） 3.4 电源 交流100V+10V X射线源 油浸式小型精细聚焦X射线管
靶：钨
管电压50kV，
管电流可变辐照法 顶部垂直照明方法 探测器 比例计数器 准直器 5种类型（自动切换型）
10.1、0.2、0.5、1.0、2.0Φmm
（可选）
：0.05、0.1、0.2、0.3、0.5，Φ
：0.05×0.5、0.5×0.05、0.1、0.2、0.5Φ样本观测 CCD彩色相机 电脑 PC/AT兼容的
17英寸彩色显示器打印机 喷墨打印机 测量目标 原子序数22（钛）至82（铅）的元素，
原子序数21及以下的元素可通过吸收法测定。筛选 2 种类型（CO、Ni）自动切换 可测量范围 原子序数 22-24：0.02 至约 20 μm；
原子序数 25-40：0.01 至约 30 μm；
原子序数 41-51：0.02 至约 70 μm；
原子序数 52-82：0.05 至约 10 μm校准曲线 自动校准曲线生成功能 多点校准曲线 校正功能 基准校正 应用 单层电镀测量、
双层电镀测量、
三层电镀测量、
合金膜厚度和成分比同步测量、
化学镀镍测量测量函数 自动测量
输出格式设置
光谱测量
两点距离测量自动表格功能 测量位置规格（XYZ）
相同图案重复功能
原点校正功能
测量位置确认功能
自动校准数据处理功能 统计信息显示：均值、标准差、最大值、最小值、极差、CP、Cpk
直方图
轮廓显示、
测量数据3D显示
、XR控制图安全功能 X射线电源钥匙
开关故障安全功能其他功能 舞台坐标显示
密码功能
设备维护保养