全新！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 COSMOS-3X
全新！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 COSMOS-3X全新！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 COSMOS-3X尺寸405（宽）x 430（深）x 580（高）[毫米]*不含突出部分重量48 [公斤]COSMOS-3X荧光X射线镀膜测厚仪的特点采用双重过滤除了数值滤波器外，还使用了两种类型的机械滤波器，即 Co 和 Ni，即使对于原子序数相邻的基材和涂层的组合（例如 C
全新！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 COSMOS-3X
全新！！DENSOKU电测 X射线荧光薄膜厚度计 COSMOS-3X
| 尺寸 | 405（宽）x 430（深）x 580（高）[毫米] *不含突出部分 |
|---|---|
| 重量 | 48 [公斤] |
COSMOS-3X荧光X射线镀膜测厚仪的特点
采用双重过滤
除了数值滤波器外，还使用了两种类型的机械滤波器，即 Co 和 Ni，即使对于原子序数相邻的基材和涂层的组合（例如 Cu 上的 Ni 和 Zn 上的 Cu），也能进行精确测量。
内置五种准直器
标配五种准直器：0.1、0.2、0.5、1.0 和 2.0 mmφ。
另可选配 0.05 mmφ 和 0.05 mmφ x 0.5 mmφ 的准直器。
自我诊断维护
自动诊断功能可快速排除设备故障。
此外，还会显示X射线管的使用时间和剩余寿命，以方便维护。
控制软件 ExWin
操作简便，可通过Windows PC上的ExWin控制软件进行操作。数据可轻松导入电子表格软件等。
统计处理功能
可以显示和打印各种统计数据和图表。
窗口X射线管
现在已有铍窗X射线管。使用铍窗X射线管，可以使用直径仅为0.05毫米的小型准直器进行测量，并且可以高精度地测量钛和铬等轻元素。
COSMOS-3X荧光X射线镀膜测厚仪规格
类型 手动舞台 测量头 尺寸（毫米） 170 × 110 运动量 X（毫米） 70 Y（毫米） 70 Z（毫米） 80 测量对象高度（最大值） 80 尺寸（毫米） 402（宽）×430（深）×580（高） 重量（公斤） 48 样品负载量（千克） 3 电脑 尺寸（毫米） 主机尺寸：182（宽）x 383（深）x 372（高）
/ 显示器尺寸：412（宽）x 415（深）x 432（高）主机 6.8 / 显示器 2.8 重量（公斤） 3.4 电源 交流100V+10V X射线源 油浸式小型精细聚焦X射线管
靶：钨
管电压50kV，
管电流可变辐照法 顶部垂直照明方法 探测器 比例计数器 准直器 5种规格（自动切换型）：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0Φmm
（可选）
；0.05、0.1、0.2、0.3、0.5Φ；规格
：0.05×0.5、0.5×0.05、0.1、0.2、0.5Φ样本观测 CCD彩色相机 电脑 PC/AT兼容型
15英寸彩色显示器打印机 喷墨打印机 测量目标 原子序数22（钛）至82（铅）的元素，
原子序数21及以下的元素可通过吸收法测定。筛选 2 种类型（Co、Ni）自动切换 可测量范围 原子序数 22-24：0.02 至约 20 μm；
原子序数 25-40：0.01 至约 30 μm；
原子序数 41-51：0.02 至约 70 μm；
原子序数 52-82：0.05 至约 10 μm校准曲线 自动校准曲线生成功能 多点校准曲线 校正功能 基准校正 应用 单层电镀测量、
双层电镀测量、
三层电镀测量、
合金膜厚度和成分比同步测量、
化学镀镍测量测量函数 输出格式设置
光谱测量
两点距离测量数据处理功能 统计信息显示：均值、标准差、最大值、最小值、极差、CP、Cpk、
直方图
、轮廓图、
XR 控制图安全功能 X射线电源钥匙
开关故障安全功能其他功能 密码功能
设备维护