ADCMT/爱德万 5450 数字超高电阻表
ADCMT/爱德万 5450 数字超高电阻表ADCMT/爱德万 5450 数字超高电阻表产品概述：5450 和 5451 是 5.5 位数字超高电阻/微电流表，融合了 ADC 传统技术与最新直流放大器技术。产品适用于测量各类绝缘体、半导体绝缘电阻、微弱电流，以及二次电池材料、电容器、印刷电路板、合成树脂和橡胶材料等。5450 支持最高 ±1000 V 的浮地测量，5451 支持最高 46 V 的浮
ADCMT/爱德万 5450 数字超高电阻表
ADCMT/爱德万 5450 数字超高电阻表
产品概述：
5450 和 5451 是 5.5 位数字超高电阻/微电流表，融合了 ADC 传统技术与最新直流放大器技术。产品适用于测量各类绝缘体、半导体绝缘电阻、微弱电流，以及二次电池材料、电容器、印刷电路板、合成树脂和橡胶材料等。5450 支持最高 ±1000 V 的浮地测量，5451 支持最高 46 V 的浮地测量。
核心特性：
一、高性能测量能力
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 显示位数 | 5.5 位 |
| 电流测量范围 | 1 fA ～ 19.9999 mA |
| 电阻测量范围 | 10 Ω ～ 3 × 10¹⁷ Ω（使用电流功能） |
| 采样速度 | 最高 1,000 次/秒 |
| 直流电压发生范围 | ±1,000 V（分辨率 1 mV） |
| 发生功率 | 最大 10 W |
二、宽范围电压发生
内置新开发的电源，提供 ±1,000 V 的源/漏电压，最大输出功率 10 W。支持负电压输出，可测量：
p 沟道和 n 沟道半导体
在反向偏置电压下工作的雪崩光电二极管（APD）
电容器充放电辅助
电流限制可任意设置，在半导体评估过程中保护器件免受击穿引起的过电流损坏。
三、可选电流表响应速度
配备可变增益反馈系统，用户可根据应用场景选择电流表的响应速度：
抗外部噪声能力强的测量模式
优先考虑测量速度和响应速度的模式
四、浮地测量能力
| 型号 | 浮地测量能力 |
|---|---|
| 5450 | 最高 ±1,000 V（峰值） |
| 5451 | 最高 ±46 V（峰值） |
支持测量一端接地的样品，适用于电缆绝缘电阻测量、太阳能电池 PID 测试等场景。
五、温度/湿度测量功能
符合 JIS K6911 和 K6723 标准对材料电阻率测量温度和湿度的要求。连接推荐的温湿度传感器探头（HC2-S-E2ACT-ADC，需向第一化学株式会社购买），可同时测量环境温度和湿度。
六、丰富的接口配置
| 接口 | 标配 |
|---|---|
| GPIB | ● |
| USB | ● |
| 处理器接口 | ●（与自动化设备时序控制） |
| 互锁信号 | ●（防止意外电压输出，确保操作安全） |
| BCD 输出 | 工厂选配（+04） |
| D/A 输出 | ● |
七、预设功能——一键调用测量条件
内置 10 种预设条件，涵盖常见应用场景，省去繁琐的测量条件设置：
| 应用 | 说明 |
|---|---|
| 高速电流测量 | 皮安表模式，可对微小电流进行高速测量 |
| 电容器 IR 测量（<0.04μF） | 适用于电容小于 0.04 μF 的电容器 |
| 电容器 IR 测量（0.04-4μF） | 适用于电容 0.04-4 μF 的电容器 |
| 电容器 IR 测量（>4μF） | 适用于电容超过 4 μF 的电容器 |
| JIS K6911 测量 | Φ50 电极，体积/表面电阻率测量 |
| JIS K6723 测量 | Φ70 电极，体积/表面电阻率测量 |
| JIS C2170 测量 | Φ30.5 电极，体积/表面电阻率测量 |
| 12707 液态电极测量 | 液晶材料体积电阻率测量 |
| 绝缘电阻测量（高抗噪） | 无屏蔽环境下的高绝缘材料测量 |
| 输入电阻 1kΩ | 无论测量量程如何，输入电阻固定为 1kΩ |
此外，还内置“用户参数设置”用于自定义测量条件。