三丰 WLI-Unit-003 白光干涉测量单元

三丰 WLI-Unit-003 白光干涉测量单元

三丰 WLI-Unit-003 白光干涉测量单元

产品概述：

WLI-Unit-003是三丰（Mitutoyo）推出的一款白光干涉测量单元（WLI单元），利用白光干涉技术实现对微小表面特性的非接触式、高精度三维测量。该产品支持三维形状测量和三维粗糙度测量，具有高度测量精度与光学放大倍率无关、高纵横比测量、对外部干扰高鲁棒性等特点，适用于精密零部件的表面性状评估。

核心特性：

一、白光干涉技术

• 非接触式高精度测量

• 三维形状测量

• 三维粗糙度测量

• 高度测量精度与光学放大倍率无关

二、高纵横比测量

• 通过与光学系统数值孔径无关的检测方式

• 支持高纵横比形状测量

• 适用于深沟槽等复杂结构的测量

三、高鲁棒性

• 对外部干扰具有高鲁棒性

• 适合在工厂环境等存在振动干扰的场所使用

四、紧凑轻量设计

• 小巧轻便，便于集成

• 传感器头尺寸：108×68×191mm

• 传感器头重量：1.7kg

产品规格：

推荐PC配置：

可选配件：

典型应用场景：

• 精密零部件的三维形状测量

• 表面粗糙度测量

• 深沟槽等复杂结构的高纵横比测量

• 半导体、MEMS、光学元件等表面性状评估

• 对振动等外部干扰敏感环境下的测量

综合价值：

三丰WLI-Unit-003白光干涉测量单元通过白光干涉技术（非接触高精度三维测量）、高度测量精度与光学放大倍率无关、高纵横比测量能力、对外部干扰高鲁棒性及紧凑轻量设计（1.7kg），为精密零部件表面性状的非接触式高精度测量提供了理想的解决方案。