池田屋 OTSUKA/大塚电子 智能薄膜厚度计 SM-100S

池田屋 OTSUKA/大塚电子 智能薄膜厚度计 SM-100S

池田屋 OTSUKA/大塚电子 智能薄膜厚度计 SM-100S

OTSUKA/大塚电子（Otsuka Electronics）推出的 SM-100 系列智能薄膜厚度计，型号 SM-100S，是一款高精度便携式薄膜测厚仪。该产品采用反射光谱法（光学干涉法）进行薄膜厚度测量，可携带至生产现场使用，操作简单，即使手持状态下也能实现高精度测量。对于形状固定的样品，可进行非破坏性测量。该设备适用于半导体、光学镀膜及功能性薄膜领域的膜厚检测与品质管理。

型号构成与测量规格

SM-100S 为标准版型号，采用反射光谱法（光学干涉法）测量原理。测量薄膜厚度范围基于样品折射率 1.6 计算为 1-50μm（单层），支持单层膜结构分析。测量重复性为 2.1σ 0.01μm（SiO₂ 薄膜 1μm 标准），具有良好的测量稳定性。测量点直径为 1mm 或更小，适用于微小区域膜厚测量。

数据输出与便携规格

数据输出格式支持以文本格式导出至 U 盘，便于数据存档与后续分析。主机外形尺寸约为 138mm（宽）×198mm（深）×61mm（高，含凸起部分），质量约 1.1kg，具备良好的便携性。内置电池运行时间超过 4 小时（测量进行中），可满足现场连续测量需求。电源适配 AC100-240V，功耗 35VA（交流适配器输入），支持全球主要地区的电网标准。防护等级为 IP30/IK06，适用于一般工业现场环境。

操作与测量特点

该产品针对传统膜厚测量中“测量结果因人而异”及“测量精度差”等常见问题进行了优化设计。便携式设计使其可直接携带至生产现场使用，无需将样品带回实验室。手持状态下仍能保持高精度测量，降低了操作人员技能差异对测量结果的影响。对于形状固定的样品，可进行非破坏性测量，适用于成品或半成品的在线抽检。设备操作界面简洁，即使初次使用者也能较快上手。

环境与存储条件

使用温度范围为 15℃～30℃，相对湿度 60% 以下（无结露），建议在稳定环境中使用以保证测量精度。防护等级 IP30（防尘）及 IK06（防冲击），可适应一般工业现场环境。

优势品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC

S-VANS斯万斯、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光学

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野

IMV艾目微、MITUTOYO三丰、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三荣

HEIDON新东、KURABO仓纺、SHOWA昭和、THINKY新基

SURUGA骏河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤

RKC理化、MACOME码控美、EIWA荣和、EXCEL艾库斯、YODOGAWA淀川等