OURSTEX欧斯特克斯用于连续监测薄膜！用于无损分析的线集成荧光 X 射线分析仪。

OURSTEX欧斯特克斯用于连续监测薄膜！用于无损分析的线集成荧光 X 射线分析仪。可自由定制的线一体化荧光X射线分析仪！薄膜包衣厚度和液体成分分析可以连续、高精度地监测。

我们想推出 OURSTEX100TA-F，这是一款采用我们的无损分析技术
的线集成能量色散 X 射线荧光光谱仪。通过将其集成到薄膜沉积系统中，可以连续测量薄膜厚度并分析沉积在薄膜上的物质的成分。还可以对膜体和树脂中所含的成分进行连续分析和测量。它还可以应用于流体成分的连续监测。通过定制，我们能够根据客户需求提出建议，例如要监控的元素和外部接口。[特点] ■ 能够在线连续测量膜厚和连续分析成分■ 能够分析和测量膜和树脂中所含的成分■ 适用于流体的连续监测■ 仅需要 AC100V 电源的省电装置■ 配备SDD检测器，无需液氮或冷却水■根据客户要求定制【应用实例】◎高性能薄膜的在线分析◎金属箔的在线分析◎溶液和液体的在线分析* 用于更多信息，请查看 PDF 文档或随时联系我们。

基本信息用于连续监测薄膜！用于无损分析的线集成荧光 X 射线分析仪。

[规格（部分）]
■测量原理：能量色散X射线荧光分析法
■测量对象：薄膜、薄膜（膜厚）、流体
■电源：AC100V-240V
■安装环境温度：5-27℃
■设备冷却方式：水冷 *测量头（内部）为水冷
■X射线额定输出：40kV、1.0mA、最大40(W)