池田屋原厂Photonic Lattice二维双折射测量WPA-300
池田屋原厂Photonic Lattice二维双折射测量WPA-300池田屋原厂Photonic Lattice二维双折射测量WPA-300WPA-300 是 Photonic Lattice（光子晶格公司）WPA-300 系列中的台式标准型号，属于应力、取向及晶体缺陷质量控制类设备。该系列在保持 WPA-200 系列大相位差测量能力的基础上，将偏振图像传感器的分辨率提升至约 57 万像素（848
池田屋原厂Photonic Lattice二维双折射测量WPA-300
池田屋原厂Photonic Lattice二维双折射测量WPA-300
WPA-300 是 Photonic Lattice（光子晶格公司）WPA-300 系列中的台式标准型号，属于应力、取向及晶体缺陷质量控制类设备。该系列在保持 WPA-200 系列大相位差测量能力的基础上，将偏振图像传感器的分辨率提升至约 57 万像素（848×680），能够对透明材料表面及内部的微小相位差变化进行更细致的数字化呈现。
在测量规格方面，WPA-300 的输出包括相位差（nm）、光轴方位角（°），选配数据处理功能后可换算等效应力（MPa）。在测量纯石英的条件下，相位差量程为 0 至 3500nm。相位差重复精度为 1σ＜0.1nm，光轴方位角重复精度为 1σ＜0.1°（在相位差大于 10nm 的条件下）。系统采用 523nm、543nm、575nm 三个波长同步测量，利用多波长数据交叉计算解决高相位差条件下的相位缠绕问题，实现较宽量程的二维面分布测量。
硬件方面，WPA-300 的机身尺寸为 270×380×最大 624mm，重量约 15kg，安装相对灵活。测量视场方面，标准镜头覆盖约 36×45mm 至 100×133mm 的范围，可选配变焦镜头实现约 12×15mm 至 32×40mm 的微区观测。设备采用千兆以太网接口，电源为 AC100 至 240V（50/60Hz），配套 WPA-View 软件用于数据展示与分析。
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