池田屋现货经销Photonic 二维双折射测量WPA-200-MT

池田屋现货经销Photonic 二维双折射测量WPA-200-MT

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WPA-200-MT 是 Photonic Lattice（光子晶格公司）WPA-200 系列中采用可分离式光源设计的型号，属于应力、取向及晶体缺陷质量控制类设备。该系列通过测量三个波长上的双折射与相位差分布，将相位差的测量范围从 0 纳米扩展到 3500 纳米。与同系列其他型号不同，WPA-200-MT 的测量头可与光源分离，便于集成到生产线中实现在线测量，测量头也可安装在测量平台上使用。

在测量规格方面，WPA-200-MT 的输出包括相移/延迟（nm）、轴向（°），选配数据处理功能后可换算应力当量（MPa）。在测量纯石英的条件下，相位差量程为 0 至 3500nm。相位差重复精度为 1σ＜0.1nm，轴向取向重复精度为 1σ＜0.1°（在延迟量大于 10nm 的条件下）。传感器分辨率为 384×288，约 11 万像素，工作波长为 523nm、543nm、575nm。

硬件方面，WPA-200-MT 的尺寸为 160×215×300mm（含基站），物镜尺寸约为 33×44mm（标准镜头），变焦镜头版本约为 4.1×5.5mm 至约 11.5×15.3mm。需要说明的是，镜头类型（标准或变焦）在购买后不可更改，选型时需提前确认。设备重量约 4.5kg，便于集成安装。接口采用千兆以太网（摄像机信号），电源为 AC100 至 240V（50/60Hz），配套 WPA-View 软件。配件包括笔记本电脑、标准镜头、用户手册以及所选镜头（标准或变焦）。

在选项方面，WPA-200-MT 可选配数据处理功能、视场角校正功能、透镜分析功能、实时分析功能、遥控功能、色散模式、镜头测量阶段以及 PA/WPA 遮阳罩。其中变焦镜头与 WPA 高度迟钝两项标注为待讨论，光弹性测量在该型号上为不可用，选型时需与供应商确认。

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